Mikrosystemtechnik und Halbleiterfertigung
Lehrinhalte
In den Lehrveranstaltungen werden sowohl die grundlegenden physikalisch-technischen Zusammenhänge als auch die speziellen Verfahren der Mikrosystemtechnik vermittelt. Die Inhalte lassen sich in folgende Schwerpunkte gliedern:
- Grundlagen der Mikrosystemtechnik
- Bedeutung, typische Anwendungen und Aufbau von Mikrosystemen
- Allgemeine Werkstoffe der Mikrosystemtechnik
- Grundzüge der Halbleiterfertigung
- Charakterisierung und Herstellung einfacher Schaltungselemente
- Siliziumtechnologie und Waferherstellung
- Siliziumtechnologie und Waferherstellung
- Charakterisierung von Si-Wafern
- Reinraum und Reinraumtechnik
- Notwendigkeit und Zielsetzung der Reinraumtechnik
- Klassifizierung und Aufbau von Reinräumen
- Partikelkontamination und Maßnahmen zu deren Vermeidung
- Technologische Verfahren in der Mikrosystemtechnik / Halbleiterindustrie
- Dünnschichttechnik
- Thermische Oxidation
- Aufdampfen
- Sputtern
- CVD-Verfahren
- Lithographie
- Optische Belichtungsverfahren
- LIGA-/Röntgenlithographie
- Teilchenbasierte Lithographie
- Schleuderbeschichtung (Spin Coating)
- Fotoresiste und deren Eigenschaften
- Ätztechnik
- Nasschemisches Ätzen
- Chemische Ätzreaktionen
- Anisotropie von Ätzprozessen
- Trockenätzprozesse
- Ätzgase
- Reaktorkonfigurationen
- Dotiertechnik
- Thermische Dotierung
- Ionenimplantation
- Aufbau und Funktionsweise von Dotieranlagen
- Aktivierung und Diffusion von Dotieratomen
- Reinigungstechnik
- Anforderungen an reine Räume
- Geeignete Materialien und Prozessabläufe
- Waferreinigung
- Aufbau- und Verbindungstechnik
- Grundlegende Konzepte zur Realisierung funktionsfähiger Mikrosysteme
- Anforderungen und Anwendungen von Mikrosystemen
- Messtechnische Eigenschaften von Sensor- und Mikrosystemen
- Differentialstrukturen bei der Messwertaufnahme
- Konkrete Anwendungen, z. B.:
- Drucksensoren mit piezoresistiver Signalwandlung
- Herstellung von Druck- und Beschleunigungssensoren
- unterschiedliche Ausführungsformen
- Formen der Signalwandlung
- Prinzip der Beschleunigungsmessung
- Beschleunigungssensorik
Reinraumpraktikum
- geometrische und elektrische Charakterisierung von Wafern
- Oxidation
- Diffusion Bor / Phosphor
- Lithographie
- Sputtern
- Plasmastrukturierung
- Drahtbonden